📊 資料擷取與彙總架構

本章節只做一件事：說明 ETL 如何把設備量測變成控制圖上的一個點（Monitor Value），以及為什麼要保留 Raw Sample。全流程見 endToEndLifecycle。

讀完本篇你能回答

層級	內容	用途
Raw Sample	設備直接量測值	組內變異、下鑽診斷
Monitor Value	一組樣本彙總後的單值	控制圖上的「點」

彙總分兩類：

方法	公式	適用
全距 $R$	$X_{\max} - X_{\min}$	$n < 10$
標準差 $S$	$\sqrt{\sum(x_i-\bar{x})^2/(n-1)}$	$n \geq 10$

各組 $n$ 不一致時，總中心線用加權平均：

$\bar{\bar{X}} = \frac{\sum (n_i \cdot \bar{x}_i)}{\sum n_i}$

係數表（ $d_2$ 、 $A_2$ 等）依當前 $n$ 自動查表。

實務提醒

分組要考慮時間同質性——相隔過久的樣本不應硬湊同一 Subgroup。系統可支援強制分組截斷。